光学机械的设计和不确定性用于检查CMM触摸触发探针的设备

以下是资料介绍,如需要完整的请充值下载. 本资料已审核过,确保内容和网页里介绍一致.  
无需注册登录,支付后按照提示操作即可获取该资料.
资料介绍:

光学机械的设计和不确定性用于检查CMM触摸触发探针的设备(中文4600字,英文3300字)
本文介绍了一种检测触点触发探头的测试装置。它描述了探头试验装置,其主要目的是检查探头的可重复性和预行程变化(天线波束的控制效果)。研究结果表明,这种验证是通过测试独立于CMM误差源的探头的额外优势而实现的。本文详细介绍了该系统的设计特点,并对其进行了计算。最后给出了CMM探测性能验证的精度。
一.介绍
毫无疑问,探测器系统是CMM(坐标测量机)的关键要素之一,特别是触控触发探头。这些是最常用的探针类型(大约90%的市场)。除了在CMM测量中使用触控触发探测器的适当使用之外,还有其他的应用,而不是坐标计量。例如,一个触摸触发探针可以被合并到一个用于过程控制的机器工具中。在英国考文垂附近的拉德福德(Radford)的捷豹(Jaguar)工厂,该应用程序的一个应用就是将探测系统安装到一个加工中心,以建立一个曲轴密封孔的中心线。然而,探测器的性能是影响CMM测量不确定度的主要因素。探头机构的不准确将影响CMM测量结果。因此,必须量化与探针探测相关的错误和不确定性的性质(例如,参见巴特勒, 1990;米盖尔,1996)。已经设计了许多测试来确定探测器可能产生的误差的大小。然而,它们都不考虑独立于机器的测试,因此探测中的错误通常会叠加在CMM上。本文介绍了探头系统的性能验证,特别是触控触发探头,应用了一种新的探针测试仪的概念,包括对该系统的主要误差源的分析。
 
原文:
Design and uncertainty of an opto-mechanical
device for checking CMM touch trigger probes

This paper presents aspects of design of a test apparatus for checking touch trigger probes. It describes the probe test rig whose main objective is to check the probe repeatability and pre-travel variation (lobing effects). The results indicate that such a verification has been achieved with the additional advantage of testing the probe independent of the CMM error sources. The paper details the design characteristics of such a system for which the combined uncertainty is computed. Finally, it concludes that its accuracy is good enough for CMM probe performance verification.